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產(chǎn)品系列

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輝光放電光譜儀
輝光放電光譜儀（GDA）于1968年*出現(xiàn)，用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學(xué)分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與傳統(tǒng)的激發(fā)技術(shù)相比，輝光放電技術(shù)的突出優(yōu)點(diǎn)是能夠表層分析樣品的表層...
鎢燈絲掃描電鏡
FlexSEM1000是日立公司推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲掃描電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì)，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有的低真空成像能量，并且采用的...
臺式電子掃描電鏡
日立TM4000臺式電子掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探...
全新臺式大氣壓顯微鏡
2016年，日立公司推出大氣壓下全新臺式大氣壓顯微鏡AeroSurf1500，其*的設(shè)計(jì)可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像。
新一代超高分辨鎢燈絲掃描電鏡
SU3500新一代超高分辨鎢燈絲掃描電鏡所具備的新型的模擬圖像和改進(jìn)后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時(shí)，SE圖像可達(dá)7nm,5KV電壓時(shí)，BSE圖像可...
多功能分析型可變壓掃描電鏡
研究超大，超重，多功能分析型可變壓掃描電鏡可載樣品直徑達(dá)300mm；觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm；在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析
高分辨場發(fā)射掃描電鏡
HITACHI SU-8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時(shí)，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時(shí)，分辨率...
新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性...

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